Análisis de semiconductores
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DB-FIB
Introducción del servicio Actualmente, DB-FIB (haz de iones enfocado de doble haz) se aplica ampliamente en la investigación e inspección de productos en campos tales como: materiales cerámicos, polímeros, materiales metálicos, estudios biológicos, semiconductores, geología Alcance del servicio Materiales semiconductores, materiales orgánicos de moléculas pequeñas, materiales poliméricos, materiales híbridos orgánicos/inorgánicos, materiales inorgánicos no metálicos Antecedentes del servicio Con el rápido avance de la electrónica de semiconductores y los circuitos integrados... -
Análisis físico destructivo
Las consistencias de calidaddel proceso de fabricaciónencomponentes electrónicossonel prerrequisitoPara que los componentes electrónicos cumplan con su uso y las especificaciones correspondientes. Una gran cantidad de componentes falsificados y reacondicionados están inundando el mercado de suministro de componentes. El enfoque...Para determinar la autenticidad de los componentes del estante es un problema importante que afecta a los usuarios de componentes.
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Análisis de fallos
Con la reducción del ciclo de I+D de las empresas y el crecimiento de la escala de fabricación, la gestión y la competitividad de sus productos se enfrentan a múltiples presiones de los mercados nacionales e internacionales. Durante todo el ciclo de vida del producto, se garantiza su calidad, y una baja o incluso nula tasa de fallos se convierte en un factor clave para la competitividad de una empresa, pero también supone un reto para el control de calidad.
