Como única agencia de metrología y pruebas de terceros en China con la capacidad de emitir informes completos de calificación AEC-Q100, AEC-Q101, AECQ102, AECQ103, AEC-Q104 y AEC-Q200, GRGT ha emitido una serie de informes de pruebas de confiabilidad AEC-Q confiables y fiables. Asimismo, GRGT cuenta con un equipo de expertos con más de diez años de experiencia en la industria de semiconductores, quienes pueden analizar los productos con fallas en el proceso de verificación AEC-Q y ayudar a las empresas a mejorar y actualizar sus productos según el mecanismo de falla.
Circuitos integrados, semiconductores discretos, semiconductores optoelectrónicos, dispositivos MEMS, MCM, componentes electrónicos pasivos que incluyen resistencias, condensadores, inductores y osciladores de cristal.
AEC-Q100 para IC principalmente
AEC-Q101 para BJT, FET, IGBT, PIN, etc.
AEC-Q102 para LED, LD, PLD, APD, etc.
AEC-Q103 para micrófono MEMS, sensor, etc.
AEC-Q104 para modelos multichip, etc.
Resistencias, condensadores, inductores y osciladores de cristal AEC-Q200, etc.
Tipo de prueba | Elementos de prueba |
Pruebas de parámetros | Verificación funcional, parámetros de rendimiento eléctrico, parámetros ópticos, resistencia térmica, dimensiones físicas, tolerancia a avalanchas, caracterización de cortocircuito, etc. |
Pruebas de estrés ambiental | Vida útil a alta temperatura, polarización inversa a alta temperatura, polarización de compuerta a alta temperatura, ciclos de temperatura, vida útil de almacenamiento a alta temperatura, vida útil de almacenamiento a baja temperatura, autoclave, prueba de esfuerzo altamente acelerada, polarización inversa a alta temperatura y alta humedad, alta humedad vida útil de temperatura, vida útil de temperatura baja, vida útil de pulso, vida útil de funcionamiento intermitente, ciclo de temperatura de potencia, aceleración constante, vibración, choque mecánico, caída, fuga fina y gruesa, niebla salina, rocío, sulfuro de hidrógeno, flujo de gas mixto, etc. |
Evaluación de la calidad del proceso | Análisis físico destructivo, resistencia terminal, resistencia a solventes, resistencia al calor de soldadura, soldabilidad, corte por unión de cables, tracción por unión de cables, corte de matriz, prueba sin plomo, inflamabilidad, resistencia a las llamas, flexión de la placa, carga de viga, etc. |
ESD | Modelo de cuerpo humano con descarga electrostática, modelo de dispositivo con descarga electrostática, bloqueo de alta temperatura, bloqueo de temperatura ambiente |